Uvod u skeniranje elektronskog mikroskopa
Skeniranje elektronskog mikroskopa (skeniranje elektronskog mikroskopa, SEM) je precizni instrument velikih razmjera koji se koristi za mikro-topografsku analizu visoke rezolucije. Ima karakteristike velike dubine polja, visoke rezolucije, intuitivnog oslikavanja, snažnog trodimenzionalnog čula, širokog raspona uvećanja, a uzorak koji treba testirati može se rotirati i nagnuti u trodimenzionalnom prostoru.